SANTEC圣德科偏振相关损耗测试仪PLM-100/偏振消光比测试仪PEM-340/偏振消光比测试仪PEM-400

PLM偏振相关损耗计建立在BRM稳定和成熟的技术基础上，并将其提升到一个新的水平。改进的源隔离、电子、光学和连续激光功率参考增强了性能，以实现最可重复和稳定的测量。

基本模型能够进行PLM, IL和平均IL测量，分辨率为0.001 dB，无与伦比的PDL精度高达±(0.005 + 2%的PDL)。

反向反射选项允许从0到-75 dB的BR测量，精度为±0.4 dB。

PLM允许多达4个外部输入(1260 - 1650 nm)或内部源(1310/1490/1550/1625 nm)和双输出选项的组合，以实现最大的灵活性。可根据要求定制波长。

直观的触摸屏显示简化了操作。仪表也可以通过远程接口(以太网或USB)控制，并与我们的免费GMS软件一起使用，以自动测量。

Santec 的 PEM-340 偏振消光比测试仪(PER) 可以实现快速，精准的光器件偏振轴对准及保偏光纤（PMF）性能评价。除此之外，使用应答时间为1kHz的模拟功率计， 可对应半导体激光及光纤的高速自动对准。

• 全波段1260 to 1630 nm

• 消光比, 光功率及偏振角度的同时显示

• PER测量的50dB动态范围

• 宽动态输入功率范围
  (- 40 to + 10 dBm/标准功率), (- 25 to + 20 dBm/高功率)

• 直接 PD模拟输出

• 实时(up to 10 Hz) 测量

• 可互换连接器: FC, SC or LC

• 光装置的偏振轴对准

• 连接 PMF 跳线评价

• PMF 尾纤半导体激光评价

• PM 光纤熔接

PEM-400 是一款专门用于高容量测试保偏（Polarization Maintaining, PM）组件的偏振消光比（Polarization Extinction Ratio, PER）的仪器，例如光纤阵列单元（Fiber Array Units, FAU）和外置激光器小尺寸可插拔模块（External Laser Small Form-Factor Pluggables, ELSFP）。

该仪器通过在高速功率计前旋转偏振片来测量高达 30 dB 的偏振消光比和偏振角。同时，还可以测量无源组件的插入损耗（Insertion Loss, IL）或有源组件的输出功率。

PEM-400 的独特光学设计使其能够在无需重新定位被测设备（Device Under Test, DUT）或使用对准平台的情况下，测量整个多光纤连接器或光纤阵列（FA）。标准配置的探测器直径为 3 mm，这使得 PEM-400 能够比任何其他商业解决方案更快地进行多通道偏振消光比自动化测量。例如，一个 12 芯光纤的 DUT 可在不到 30 秒内完成测量。

对于无源组件测试，可以选择 1310 nm 或 1550 nm 波长的多通道偏振光源，输出端口数量最多可达 24 个。其他波长和更高通道数量可根据需求定制。