SANTEC圣德科插回损测试仪RLM-100/背反仪BRM-100/插损测试仪ILM-100

Santec的插回损测试仪（RLM-100）汇集了20年作为电缆组件测试市场领导者的行业反馈。该设备代表了下一代光学IL/RL测量技术。对关键硬件组件的改进使其在保持相同精度的同时，测试速度比其他高端测试解决方案快两倍。

一种新的专利校准方法允许用户进行自校准，并能够以更高的精度测量单模反射损耗，最高可达85 dB。由于其前面板触摸屏和易于使用的软件，RLM-100非常适合生产和实验室环境。

重新设计的积分球探测器可以一次性连接测量密集的72通道MTP/MPO和双工LC连接器的反射损耗。专利的SD滑入式探测器适配器提供了极致的便捷使用体验。

BRM背反仪是一种使用极其稳定的光学器件开发的仪器，用于背反射、插入损耗和功率精确测量。

BRM是单光纤和多光纤测试的实践选择，可支持1、4、12、16、24、32、48或72个输出通道。

BRM内置多达四个光源，波长为450、650、780、850、1060、1300、1310、1490、1550、1625或1650 nm。可根据客户需求定制配置。

BRM拥有良好的背向反射精度（±0.4 dB），测量灵敏度为-85 dB。

选择内置积分球可进行多光纤组件如MPO或双联LC的测量。BRM可与我们的GMS软件一起进行自动化测试。

多模版本的BRM可满足IEC 61280-4-1环形通量发射标准。

ILM-100设计用于快速准确地测量光纤元件的插入损耗。该系统有一个内置的用于单模应用的稳定激光源或用于多模应用的LED源。带有双重波长配置，可以在不到1秒的时间内测量两个波长的插入损耗。ILM-100系统配备了USB和以太网控制，便于集成到测试系统中。